Please use this identifier to cite or link to this item: http://rep.btsau.edu.ua/handle/BNAU/12178
Title: Урожайність дражованого та інкрустованого насіння цукрових буряків залежно від його підготовки
Other Titles: Yield of coated and encrusted sugar beet seeds depending on its preparation
Authors: Глеваський, Володимир Іванович
Hlevasky, Volodymyr
Keywords: буряки цукрові, коренеплоди, цукристість, дражоване насіння, інкрустоване насіння;sugar beets, root crops, coated seeds, encrusted seeds
Issue Date: 2013
Publisher: БНАУ
Citation: Глеваський В.І. Урожайність дражованого та інкрустованого насіння цукрових буряків залежно від його підготовки / В.І. Глеваський // Тези доповіді міжнародної наукво-практичної конференції «Наукові пошуки молоді у третьому тисячолітті», БНАУ. - Біла Церква, 2013. - С. 31-32
Abstract: Якість насіння формується не лише в процесі створення нових сортів і гібридів, та його вирощування, а й під час його передпосівної підготовки. Результати вітчизняних та зарубіжних досліджень свідчать, що одним з ефективних способів зниження затрат праці і підвищення врожайності цукрових буряків є сівба насінням з покращеними фізико-механічними властивостями, що забезпечуються його шліфуванням, калібруванням, інкрустуванням та дражуванням.
Description: Seed quality is formed not only in the process of creating new varieties and hybrids and its cultivation, but also during its pre-sowing preparation. The results of domestic and foreign research indicate that one of the effective ways to reduce labor costs and increase the yield of sugar beets is to sow seeds with improved physical and mechanical properties, which are ensured by grinding, calibration, encrusting and coating.
URI: http://rep.btsau.edu.ua/handle/BNAU/12178
metadata.dc.identifier.udc: УДК 633.63.631.531.12
Appears in Collections:Наукові публікації

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Yield_of_coa_ed_seeds.pdf207,44 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.